具有缺陷測量功能的內(nèi)窺鏡產(chǎn)品哪種比較好呢？三維掃描測量內(nèi)窺鏡利用主動掃描技術測量缺陷，例如：進口內(nèi)窺鏡韋林 Mentor Viusal iQ 搭載的相位掃描三維立體測量技術，不僅無需頻繁更換鏡頭、3D表面輪廓有助于提升測量準確度，而且不要求準確對焦、具有MTD距離指示等，也是其顯著優(yōu)勢。本文重點介紹后兩點，其他內(nèi)容可以關注“相關推薦”部分。

三維掃描測量內(nèi)窺鏡的優(yōu)勢

1. 不要求準確對焦，測量數(shù)據(jù)更可信。傳統(tǒng)雙物鏡立體測量技術通過在立體圖像中匹配像素的原理實施測量，左右兩個視圖中的光標位置非常關鍵，它們應該是同一個像素，這樣測量結果才有保證，因此，要求圖像對焦準確。而三維掃描測量通過采集投影在平面上的結構光條紋圖形，生成多個XYZ點，然后利用算法處理這些數(shù)據(jù)，生成全表面點云圖，即使在圖像對焦不準確的情況下，仍然能生成可準確測量的XYZ數(shù)據(jù)，測量數(shù)據(jù)更可信。

2. 內(nèi)窺鏡探頭至目標的距離控制有保障。由于大部分測量技術都采用三角測量原理，隨著測量距離的增大，測量的準確度會降低。因此，在測量時將內(nèi)窺鏡鏡頭靠近測量表面，這樣得到的測量結果通常比遠離測量表面更加準確，對于深度測量而言，尤其如此。但是探頭與目標之間的距離把控，需要靠操作者的經(jīng)驗，這就給缺陷測量帶來了一定的不確定性。三維掃描測量內(nèi)窺鏡提供了一個最大目標距離（MTD）值，表示在某次測量中，從鏡頭到最遠光標所在視圖面的距離，便于操作者參考，而且當MTD對于當前測量類型和尺寸來說過大時，還會為操作者提供提示，通過良好的距離控制，實現(xiàn)更精準的測量。

三維掃描測量內(nèi)窺鏡的使用注意事項

為了獲得高質(zhì)量的3D數(shù)據(jù)，三維掃描測量內(nèi)窺鏡要捕捉大量的圖像，因此在捕捉測量圖像的過程中盡可能保持鏡頭與被測表面的相對靜止，抖動、晃動或者過早地移開，都可能對檢測影像的捕捉以及高質(zhì)量3D數(shù)據(jù)的生成造成影響。

以上為您介紹了三維掃描測量內(nèi)窺鏡的優(yōu)勢與使用注意事項。在工業(yè)內(nèi)窺鏡檢測中，影響測量結果的還有觀察角度、表面狀況、反射等等多方面的因素，因此要根據(jù)實際情況選擇適宜的測量技術以及采用正確的操控方式。如果您有任何疑問，歡迎咨詢北京韋林意威特工業(yè)內(nèi)窺鏡有限公司（http://m.leifw.com）。

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