使用韋林內(nèi)窺鏡檢測(cè)不僅能高效地發(fā)現(xiàn)設(shè)備、零件、建筑物等的內(nèi)表面缺陷，而且還可以采用先進(jìn)的缺陷測(cè)量技術(shù)對(duì)缺陷進(jìn)行測(cè)量。其中單物鏡相位掃描三維立體測(cè)量技術(shù)（3DPM）和雙物鏡三維立體測(cè)量技術(shù)（3DST）是業(yè)內(nèi)真正的3D測(cè)量技術(shù)，不僅拓展了工業(yè)內(nèi)窺鏡的缺陷測(cè)量類型（測(cè)量模式），可以應(yīng)對(duì)千變?nèi)f化的測(cè)量需求，而且3D點(diǎn)云圖功能更是為缺陷檢測(cè)及測(cè)量插上了快捷精準(zhǔn)的翅膀。

3D點(diǎn)云圖的優(yōu)勢(shì)

1. 提供缺陷的直觀、概要信息；

2. 實(shí)現(xiàn)測(cè)量可視化，確保正確放置光標(biāo)并對(duì)測(cè)量質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估；

3. 顯示離探頭最近的點(diǎn)與最遠(yuǎn)的點(diǎn)的距離，定位缺陷與深度測(cè)量光標(biāo)的位置；

4. 顯示噪點(diǎn)水平；

5. 圖像出現(xiàn)波形/波紋表示鏡頭格柵上可能有灰塵、油污、被測(cè)物高拋光或反光等。

3D點(diǎn)云圖的使用說(shuō)明

韋林工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡Mentor Visual iQ提供兩種可選的不同的點(diǎn)云圖像：全屏點(diǎn)云圖像和測(cè)量點(diǎn)云圖像。全屏點(diǎn)云圖像顯示測(cè)量區(qū)域的所有三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)。全屏點(diǎn)云圖像中，深度圖顏色深淺顯示定點(diǎn)與目標(biāo)點(diǎn)的距離。下面以分屏顯示的測(cè)量點(diǎn)云圖像為例（如下圖2所示），測(cè)量圖像中的信息遵循下列原則：

1. 只顯示測(cè)量點(diǎn)周邊的區(qū)域；

2. 顯示選擇點(diǎn)間的線段，即：光標(biāo)之間的線如圖中3所示；

3. 深度剖面測(cè)量顯示沿著深度剖面表面與兩個(gè)定位光標(biāo)之間的剖面距離；

4. 根據(jù)測(cè)量類型形成參考平面，藍(lán)色正方形平面表示參考平面位置，如圖中4所示，參考平面為測(cè)量提供準(zhǔn)確的基準(zhǔn)；

5. 當(dāng)測(cè)量平面和點(diǎn)到線、區(qū)域或深度測(cè)量一起使用時(shí)，會(huì)顯示 Edge View Angle 和 Edge View Angle 線 (5)，以幫助實(shí)現(xiàn)正確的視圖設(shè)置。

3D點(diǎn)云圖操作指南

全屏點(diǎn)云圖像與測(cè)量點(diǎn)云圖像均可實(shí)現(xiàn)下列操作：在觸摸屏上移動(dòng)手指(或使用操縱桿)可將圖像在三維空間內(nèi)旋轉(zhuǎn)；用兩個(gè)手指可重新定位或在可視平面內(nèi)旋轉(zhuǎn)圖像；兩個(gè)手指同時(shí)分離/合攏，圖像可放大/縮小。也就是說(shuō)通過(guò)作用于MiQ視頻內(nèi)窺鏡觸摸屏上的手勢(shì)，可以輕松地實(shí)現(xiàn)3D點(diǎn)云圖在三維空間內(nèi)的平移、旋轉(zhuǎn)和縮放，方便檢測(cè)人員從不同的角度、參考不同的細(xì)節(jié)，審視測(cè)量過(guò)程、驗(yàn)證測(cè)量的正確性，避免因?yàn)槎S平面上的視覺誤差出現(xiàn)打點(diǎn)偏差等問題。

以上為您介紹了韋林內(nèi)窺鏡3D測(cè)量點(diǎn)云圖的優(yōu)勢(shì)、使用說(shuō)明及操作指南。缺陷測(cè)量是工業(yè)內(nèi)窺鏡功能版圖中的重要成員，3D測(cè)量是缺陷測(cè)量技術(shù)的未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)，而點(diǎn)云圖則是3D測(cè)量技術(shù)中的一大亮點(diǎn)，讓缺陷測(cè)量更快捷、更靠譜、更可信！

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